年単位の研究成果
フィンガープリント Hirofumi Shinoharaが有効な場合、研究トピックを掘り下げます。このトピックラベルは、この人物の業績からのものです。これらはともに一意のフィンガープリントを構成します。
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研究成果
A 0.5-V 2.07-fJ/b 497-F2 EE/CMOS Hybrid SRAM Physically Unclonable Function with < 1E-7 Bit Error Rate Achieved through Hot Carrier Injection Burn-in
Liu, K., Pu, H. & Shinohara, H., 2020 3, 2020 IEEE Custom Integrated Circuits Conference, CICC 2020. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 9075875. (Proceedings of the Custom Integrated Circuits Conference; 巻数 2020-March).研究成果: Conference contribution
A 373-F 0.21%-Native-BER EE SRAM Physically Unclonable Function with 2-D Power-Gated Bit Cells and {V}_{\text{SS}} Bias-Based Dark-Bit Detection
Liu, K., Min, Y., Yang, X., Sun, H. & Shinohara, H., 2020 6, ： : IEEE Journal of Solid-State Circuits. 55, 6, p. 1719-1732 14 p., 8957039.研究成果: Article
A CMOS 0.85-V 15.8-nW current and voltage reference without resistors
Wang, J. & Shinohara, H., 2019 4, 2019 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test, VLSI-DAT 2019. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 8741737. (2019 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test, VLSI-DAT 2019).研究成果: Conference contribution
A 373 F 2 2D Power-Gated EE SRAM Physically Unclonable Function with Dark-Bit Detection Technique
Liu, K., Min, Y., Yang, X., Sun, H. & Shinohara, H., 2018 12 14, 2018 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference, A-SSCC 2018 - Proceedings. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 161-164 4 p. 8579315. (2018 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference, A-SSCC 2018 - Proceedings).研究成果: Conference contribution
2
引用
（Scopus）
High-throughput von Neumann post-processing for random number generator
Zhang, R., Chen, S., Wan, C. & Shinohara, H., 2018 6 5, 2018 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test, VLSI-DAT 2018. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 1-4 4 p.研究成果: Conference contribution
3
引用
（Scopus）