• 11029 引用
  • 47 h指数
1974 …2020

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研究成果

フィルター
Review article
2018
2006

IEE japan executive members elected

Ohki, Y., 2006 1 1, : : IEEE Electrical Insulation Magazine. 22, 3, p. 42-43 2 p.

研究成果: Review article

1 引用 (Scopus)
2005
29 引用 (Scopus)
2003

Structural defects in amorphous silicon oxynitride and silicon nitride

Kato, H. & Ohki, Y., 2003 1 1, : : Defect and Diffusion Forum. 218-220, p. 39-49 11 p.

研究成果: Review article

1 引用 (Scopus)