2D-PPC: A single-correction multiple-detection method for Through-Silicon-Via Faults

Khanh N. Dang*, Michael Conrad Meyer, Akram Ben Ahmed, Abderazek Ben Abdallah, Xuan Tu Tran

*この研究の対応する著者

研究成果

1 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「2D-PPC: A single-correction multiple-detection method for Through-Silicon-Via Faults」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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Engineering & Materials Science

Chemical Compounds