A 373-F 0.21%-Native-BER EE SRAM Physically Unclonable Function with 2-D Power-Gated Bit Cells and {V}_{\text{SS}} Bias-Based Dark-Bit Detection

Kunyang Liu*, Yue Min, Xuan Yang, Hanfeng Sun, Hirofumi Shinohara

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研究成果: Article査読

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フィンガープリント

「A 373-F 0.21%-Native-BER EE SRAM Physically Unclonable Function with 2-D Power-Gated Bit Cells and {V}_{\text{SS}} Bias-Based Dark-Bit Detection」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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