A 45-nm Bulk CMOS Embedded SRAM With Improved Immunity Against Process and Temperature Variations

Koji Nii, Makoto Yabuuchi, Yasumasa Tsukamoto, Shigeki Ohbayashi, Susumu Imaoka, Hiroshi Makino, Yoshinobu Yamagami, Satoshi Ishikura, Toshio Terano, Toshiyuki Oashi, Keiji Hashimoto, Akio Sebe, Gen Okazaki, Katsuji Satomi, Hironori Akamatsu, Hirofumi Shinohara

研究成果: Article査読

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フィンガープリント

「A 45-nm Bulk CMOS Embedded SRAM With Improved Immunity Against Process and Temperature Variations」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science