A loadless 4T SRAM powered by gate leakage current with a high tolerance for fluctuations in device parameters

Yihan Zhu, Takashi Ohsawa

研究成果: Article査読

フィンガープリント

「A loadless 4T SRAM powered by gate leakage current with a high tolerance for fluctuations in device parameters」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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