A novel SRAM structure for leakage power suppression in 45nm technology

Sui Huang*, Zhangcai Huang, Atsushi Kurokawa, Yasuaki Inoue

*この研究の対応する著者

    研究成果: Conference contribution

    2 被引用数 (Scopus)

    フィンガープリント

    「A novel SRAM structure for leakage power suppression in 45nm technology」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

    Engineering & Materials Science