A pattern for reconstructing test code based on test coverage

Kazunori Sakamoto*, Hironori Washizaki, Takuto Wada, Yoshiaki Fukazawa

*この研究の対応する著者

研究成果: Conference contribution

抄録

The duplicated test code exists widely in source code. However duplicated test code decreases maintainability. We therefore extract and propose a pattern for reconstructing test code to remove the duplication. The pattern finds duplicated test code based on test coverage and helps to remove redundant test code. We contribute to advancement and the spread of the test technology by describing the patter.

本文言語English
ホスト出版物のタイトルAsianPLoP 2010 - 1st Asian Conference on Pattern Languages of Programs, Proceedings
DOI
出版ステータスPublished - 2010 12 1
イベント1st Asian Conference on Pattern Languages of Programs, AsianPLoP 2010 - Tokyo, Japan
継続期間: 2010 3 162010 3 17

出版物シリーズ

名前ACM International Conference Proceeding Series

Conference

Conference1st Asian Conference on Pattern Languages of Programs, AsianPLoP 2010
国/地域Japan
CityTokyo
Period10/3/1610/3/17

ASJC Scopus subject areas

  • ソフトウェア
  • 人間とコンピュータの相互作用
  • コンピュータ ビジョンおよびパターン認識
  • コンピュータ ネットワークおよび通信

フィンガープリント

「A pattern for reconstructing test code based on test coverage」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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