A Reliable 1-Mbit DRAM with a Multi-Bit-Test Mode

Masaki Kumanoya, Kazuyasu Fujishima, Hideshi Miyatake, Nishimura Yasumasa, Kazunori Saito, Takayuki Matsukawa, Tsutomu Yoshihara, Takao Nakano

研究成果: Article査読

フィンガープリント 「A Reliable 1-Mbit DRAM with a Multi-Bit-Test Mode」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science