An artificial fingerprint device (AFD) module using poly-si thin film transistors with logic LSI compatible process for built-in security

S. Maeda, H. Kuriyama*, T. Ipposhi, S. Maegawa, M. Inuishi

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抄録

An artificial fingerprint device module using poly-crystalline silicon thin film transistors with logic LSI compatible process is proposed for securing a digital society. Substituting for actual fingerprint, characteristics variation of poly-silicon thin film transistors is utilized. The variation is random and offers unique, non-alterable, and non-duplicable numbers. Stable recognition operation based on the nature of poly-silicon TFTs is suggested.

本文言語English
ページ（範囲）759-762
ページ数4
ジャーナルTechnical Digest - International Electron Devices Meeting
出版ステータスPublished - 2001 12 1
外部発表はい
イベントIEEE International Electron Devices Meeting IEDM 2001 - Washington, DC, United States
継続期間: 2001 12 2 → 2001 12 5

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  • 電子材料、光学材料、および磁性材料
  • 凝縮系物理学
  • 電子工学および電気工学
  • 材料化学

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