Analysis of crystalline nano structures embedded in amorphous films by selected area nano diffraction in a Cs-corrected TEM

J. Yamasaki*, S. Morishita, N. Tanaka, A. Hirata, Y. Hirotsu, T. Kato

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本文言語English
ページ(範囲)760-761
ページ数2
ジャーナルMicroscopy and Microanalysis
15
SUPPL. 2
DOI
出版ステータスPublished - 2009 7
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  • 器械工学

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