Analysis of X-ray diffraction curves of trapezoidal Si nanowires with a strain distribution

Teruaki Takeuchi*, Kosuke Tatsumura, Takayoshi Shimura, Iwao Ohdomari

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フィンガープリント

「Analysis of X-ray diffraction curves of trapezoidal Si nanowires with a strain distribution」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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