Atomic structure of CaF2/Si(111) interface and defect formation on CaF2(111) surface by electron irradiation

Kouji Miura*, Kazuhiko Sugiura, Ryutaro Souda, Takashi Aizawa, Chuhei Oshima, Yoshio Ishizawa

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    フィンガープリント

    「Atomic structure of CaF2/Si(111) interface and defect formation on CaF2(111) surface by electron irradiation」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

    Engineering & Materials Science

    Physics & Astronomy