AUTOMATIC TEST GENERATION SYSTEM FOR LARGE SCALE GATE ARRAYS.

T. Aikyo*, Y. Hatano, J. Ishii, N. Karasawa, S. Fujii

*この研究の対応する著者

研究成果: Conference contribution

フィンガープリント

「AUTOMATIC TEST GENERATION SYSTEM FOR LARGE SCALE GATE ARRAYS.」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science