BIAS-TEMPERATURE LIFE TESTS FOR PLANAR-TYPE VPE-GROWN INGAAS/INP HETEROSTRUCTURE APD'S.

Yuichi Matsushima*, Yukio Noda, Yukitoshi Kushiro

*この研究の対応する著者

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フィンガープリント

「BIAS-TEMPERATURE LIFE TESTS FOR PLANAR-TYPE VPE-GROWN INGAAS/INP HETEROSTRUCTURE APD'S.」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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