Bit error rate performance of bias-free operational UTC-PD for high baud rate communications up to 100 Gbaud

T. Umezawa, A. Matsumoto, A. Kanno, N. Yamamoto, T. Kawanishi

研究成果: Conference contribution

抄録

We fabricated a bias free operational high bandwidth photodetector operated over 110-GHz, and characterized the bit error performance at up to 100-Gbaud. At 90-Gbaud, BER< 1×10-3 was confirmed without a frequency equalizer or a DSP.

本文言語English
ホスト出版物のタイトルCLEO
ホスト出版物のサブタイトルScience and Innovations, CLEO_SI 2019
出版社OSA - The Optical Society
ISBN(印刷版)9781943580576
DOI
出版ステータスPublished - 2019
イベントCLEO: Science and Innovations, CLEO_SI 2019 - San Jose, United States
継続期間: 2019 5月 52019 5月 10

出版物シリーズ

名前Optics InfoBase Conference Papers
Part F129-CLEO_SI 2019

Conference

ConferenceCLEO: Science and Innovations, CLEO_SI 2019
国/地域United States
CitySan Jose
Period19/5/519/5/10

ASJC Scopus subject areas

  • 材料力学
  • 電子材料、光学材料、および磁性材料

フィンガープリント

「Bit error rate performance of bias-free operational UTC-PD for high baud rate communications up to 100 Gbaud」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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