Characterization of nanotextured AlN thin films by x-ray absorption near-edge structures

T. Suga, S. Kameyama, S. Yoshioka, T. Yamamoto, I. Tanaka*, T. Mizoguchi

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フィンガープリント

「Characterization of nanotextured AlN thin films by x-ray absorption near-edge structures」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Physics & Astronomy