Characterization of strained Si wafer surface by density functional theory analysis

Kaoruho Sakata, Takayuki Homma*, Hiromi Nakai, Tetsuya Osaka

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フィンガープリント

「Characterization of strained Si wafer surface by density functional theory analysis」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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