| 本文言語 | English |
|---|---|
| ページ（範囲） | 96-105 |
| ページ数 | 10 |
| ジャーナル | Electrical Engineering in Japan |
| 巻 | 110 |
| 号 | 1 |
| DOI | |
| 出版ステータス | Published - 1990 |
| 外部発表 | はい |
ASJC Scopus subject areas
- エネルギー工学および電力技術
- 電子工学および電気工学
Degradation defection methods for electronic circuits
Hiroshi Inujima*, Uichi Kichijima
*この研究の対応する著者
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