Determination of local atomic displacements in CeO1-xFxBiS2 system

E. Paris, B. Joseph, A. Iadecola, T. Sugimoto, L. Olivi, S. Demura, Y. Mizuguchi, Y. Takano, T. Mizokawa, N. L. Saini

研究成果: Article査読

44 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント 「Determination of local atomic displacements in CeO<sub>1</sub>-xF<sub>x</sub>BiS<sub>2</sub> system」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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