Direct analysis of the structure, concentration, and chemical activity of surface atomic vacancies by specialized low-energy ion-scattering spectroscopy: TiC(001)

M. Aono*, Y. Hou, R. Souda, C. Oshima, S. Otani, Y. Ishizawa

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    フィンガープリント

    「Direct analysis of the structure, concentration, and chemical activity of surface atomic vacancies by specialized low-energy ion-scattering spectroscopy: TiC(001)」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

    Physics & Astronomy