Direct measurement of transient drain currents in partially-depleted SOI N-channel MOSFETs using a nuclear microprobe for highly reliable device designs

Toshiaki Iwamatsu*, Kouichi Nakayama, Hiromichi Takaoka, Mikio Takai, Yasuo Yamaguchi, Shigeto Maegawa, Masahide Inuishi, Atsushi Kinomura, Yuji Horino, Tadashi Nlshimura

*この研究の対応する著者

研究成果: Article › 査読

9 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Direct measurement of transient drain currents in partially-depleted SOI N-channel MOSFETs using a nuclear microprobe for highly reliable device designs」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science

Physics & Astronomy