マイクロギャップ電極デバイスを用いたシリカ/エポキシ界面の破壊経路の直接観察
Rina Sankawa*, Takuya Onishi, Kohei Takahashi, Motohiro Tomita, Kotaro Mura, Takahiro Nakamura, Tetsuo Yoshimitsu, Takahiro Imai, Takanobu Watanabe
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Rina Sankawa*, Takuya Onishi, Kohei Takahashi, Motohiro Tomita, Kotaro Mura, Takahiro Nakamura, Tetsuo Yoshimitsu, Takahiro Imai, Takanobu Watanabe
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