マイクロギャップ電極デバイスを用いたシリカ/エポキシ界面の破壊経路の直接観察

Rina Sankawa*, Takuya Onishi, Kohei Takahashi, Motohiro Tomita, Kotaro Mura, Takahiro Nakamura, Tetsuo Yoshimitsu, Takahiro Imai, Takanobu Watanabe

*この研究の対応する著者

研究成果: Article査読

フィンガープリント

「マイクロギャップ電極デバイスを用いたシリカ/エポキシ界面の破壊経路の直接観察」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science