Evaluation of soft errors in DRAM and SRAM using nuclear microprobe and neutron source

M. Takai*, Y. Arita, S. Abo, T. Iwamatsu, S. Maegawa, H. Sayama, Y. Yamaguchi, M. Inuishi, T. Nishimura

*この研究の対応する著者

研究成果: Conference contribution

フィンガープリント

「Evaluation of soft errors in DRAM and SRAM using nuclear microprobe and neutron source」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science