Evaluation of temperature and germanium concentration dependence of EXAFS oscillations in Si-rich silicon germanium thin films

K. Yoshioka*, R. Yokogawa, M. Koharada, H. Takeuchi, G. Ogasawara, I. Hirosawa, T. Watanabe, A. Ogura

*この研究の対応する著者

研究成果: Conference contribution

フィンガープリント

「Evaluation of temperature and germanium concentration dependence of EXAFS oscillations in Si-rich silicon germanium thin films」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science