Fast scanning tunneling microscope for dynamic observation

Sumio Hosaka*, Tsuyoshi Hasegawa, Shigeyuki Hosoki, Keiji Takata

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抄録

A fast scanning tunneling microscope (FSTM) is developed using a new method of compensating for the probe tip servo error in constant current mode. The compensation value is derived from the ratio of tunnel current fluctuation to tunnel current (ΔI/I) in a differential tunnel current equation. Dynamic video images of Si(111) adatomic structures taken using the FSTM prove that this method is effective for fast scanning.

本文言語English
ページ(範囲)1342-1343
ページ数2
ジャーナルReview of Scientific Instruments
61
4
DOI
出版ステータスPublished - 1990
外部発表はい

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  • 器械工学

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「Fast scanning tunneling microscope for dynamic observation」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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