High depth resolution SIMS analysis using metal cluster complex ion bombardment

M. Tomita, T. Kinno, M. Koike, H. Tanaka, S. Takeno, Y. Fujiwara, K. Kondou, Y. Teranishi, H. Nonaka, T. Fujimoto, A. Kurokawa, S. Ichimura

研究成果: Conference article査読

フィンガープリント

「High depth resolution SIMS analysis using metal cluster complex ion bombardment」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Physics & Astronomy