Impact of oxidation induced atomic disorder in narrow Si nanowires on transistor performance

Hideki Minari, Tomofumi Zushi, Takanobu Watanabe, Yoshinari Kamakura, Shigeyasu Uno, Nobuya Mori

研究成果: Conference contribution

4 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Impact of oxidation induced atomic disorder in narrow Si nanowires on transistor performance」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science