In situ Ru K-edge X-ray absorption fine structure studies of electroprecipitated ruthenium dioxide films with relevance to supercapacitor applications

Yibo Mo, Mark R. Antonio, Daniel Alberto Scherson*

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フィンガープリント

「In situ Ru K-edge X-ray absorption fine structure studies of electroprecipitated ruthenium dioxide films with relevance to supercapacitor applications」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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