Measurement of electrical properties of materials under the oxide layer by microwave-AFM probe

Lan Zhang, Yang Ju, Atsushi Hosoi, Akifumi Fujimoto

研究成果: Article

3 引用 (Scopus)

フィンガープリント Measurement of electrical properties of materials under the oxide layer by microwave-AFM probe' の研究トピックを掘り下げます。これらはともに一意のフィンガープリントを構成します。

Chemical Compounds

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