Metal cluster complex primary ion beam source for secondary ion mass spectrometry (SIMS)

Yukio Fujiwara*, Kouji Watanabe, Hidehiko Nonaka, Naoaki Saito, Atsushi Suzuki, Toshiyuki Fujimoto, Akira Kurokawa, Shingo Ichimura

*この研究の対応する著者

研究成果: Article査読

9 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Metal cluster complex primary ion beam source for secondary ion mass spectrometry (SIMS)」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science

Physics & Astronomy

Chemical Compounds