Modeling the effective capacitance of interconnect loads for predicting CMOS gate slew

Zhangcai Huang*, Atsushi Kurokawa, Jun Pan, Yasuaki Inoue

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    フィンガープリント

    「Modeling the effective capacitance of interconnect loads for predicting CMOS gate slew」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

    Mathematics

    Engineering & Materials Science