Novel characterization of implant damage in SiO2 by nuclear-deposited energy

A. Hiraiwa*, H. Usui, K. Yagi

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フィンガープリント

「Novel characterization of implant damage in SiO<sub>2</sub> by nuclear-deposited energy」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Physics & Astronomy