Numerical simulation of critical current degradation of Nb3Sn strand in CIC conductor

Haruyuki Murakami, Atsushi Ishiyama, Hiroshi Ueda, Norikiyo Koizumi, Kiyoshi Okuno

研究成果: Article査読

2 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント 「Numerical simulation of critical current degradation of Nb<sub>3</sub>Sn strand in CIC conductor」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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