On-chip leakage monitor circuit to scan optimal reverse bias voltage for adaptive body-bias circuit under gate induced drain leakage effect

M. Fujii*, H. Suzuki, H. Notani, H. Makino, H. Shinohara

*この研究の対応する著者

研究成果: Conference contribution

3 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「On-chip leakage monitor circuit to scan optimal reverse bias voltage for adaptive body-bias circuit under gate induced drain leakage effect」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science