On the length of THRU standard for TRL de-embedding on Si substrate above 110 GHz

A. Orii, M. Suizu, S. Amakawa, K. Katayama, K. Takano, M. Motoyoshi, T. Yoshida, M. Fujishima

研究成果: Conference contribution

15 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「On the length of THRU standard for TRL de-embedding on Si substrate above 110 GHz」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science