Over-erasure detection technique for tightening Vth distribution for low voltage operation NOR type flash memory

Yoshikazu Miyawaki, Takeshi Nakayama, Masaaki Mihara, Shinji Kawai, Minoru Ohkawa, Natsuo Ajika, Masahiro Hatanaka, Yasushi Terada, Tsutomu Yoshihara

研究成果: Conference contribution

1 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント 「Over-erasure detection technique for tightening Vth distribution for low voltage operation NOR type flash memory」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science