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研究成果
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Oxidation properties of silicon nitride thin films fabricated by double tubed coaxial line type microwave plasma chemical vapor deposition
Isamu Kato
*
, Kouji Numada, Yukihiro Kiyota
*
この研究の対応する著者
早稲田大学
研究成果
:
Article
›
査読
7
被引用数 (Scopus)
概要
フィンガープリント
フィンガープリント
「Oxidation properties of silicon nitride thin films fabricated by double tubed coaxial line type microwave plasma chemical vapor deposition」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。
並べ替え順
重み付け
アルファベット順
Engineering & Materials Science
Silicon nitride
100%
Chemical vapor deposition
96%
Thin films
77%
Plasmas
75%
Oxidation
72%
Microwaves
72%
Infrared absorption
26%
Hydrogen
26%
Absorption spectroscopy
25%
Infrared spectroscopy
22%
Atoms
17%
Annealing
16%
Temperature
6%
Physics & Astronomy
silicon nitrides
80%
vapor deposition
63%
oxidation
60%
microwaves
55%
thin films
42%
infrared absorption
16%
low concentrations
15%
hydrogen atoms
15%
plasma jets
15%
absorption spectroscopy
15%
infrared spectroscopy
14%
voids
14%
annealing
9%
room temperature
9%