Reducing the failure risk of portable electronic devices under field use conditions through triaxial strain gage array technology

Hongbin Shi, Cuihua Tian, Satoshi Ikezawa, Toshitsugu Ueda

    研究成果: Conference contribution

    フィンガープリント

    「Reducing the failure risk of portable electronic devices under field use conditions through triaxial strain gage array technology」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

    Engineering & Materials Science