Reducing the failure risk of portable electronic devices under field use conditions through triaxial strain gage array technology

Hongbin Shi*, Cuihua Tian, Satoshi Ikezawa, Toshitsugu Ueda

*この研究の対応する著者

    研究成果: Conference contribution

    フィンガープリント

    「Reducing the failure risk of portable electronic devices under field use conditions through triaxial strain gage array technology」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

    Engineering & Materials Science