Reflection electron microscope and scanning tunneling microscope observations of CVD diamond (001) surfaces

H. Sasaki*, M. Aoki, H. Kawarada

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抄録

Reflection electron microscopy (REM) and scanning tunneling microscopy have been applied to the estimation of the surface flatness of diamond (001) surfaces and to the 2 × 1 reconstructed structure. The macroscopic surface flatness observed by REM has been improved by using CO as a source gas and by boron-doping.

本文言語English
ページ(範囲)1271-1276
ページ数6
ジャーナルDiamond and Related Materials
2
9
DOI
出版ステータスPublished - 1993 7 1

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  • 電子材料、光学材料、および磁性材料
  • 化学 (全般)
  • 機械工学
  • 材料化学
  • 電子工学および電気工学

フィンガープリント

「Reflection electron microscope and scanning tunneling microscope observations of CVD diamond (001) surfaces」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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