RELIABLE 1-MBIT DRAM WITH A MULTI-BIT-TEST MODE.

Masaki Kumanoya*, Kazuyasu Fujishima, Hideshi Miyatake, Yasumasa Nishimura, Kazunori Saito, Takayuki Matsukawa, Tsutomu Yoshihara, Takao Nakano

*この研究の対応する著者

研究成果査読

7 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「RELIABLE 1-MBIT DRAM WITH A MULTI-BIT-TEST MODE.」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science