Reverse-mode single ion beam induced charge (R-mode SIBIC) imaging for the test of total dose effects in n-ch metal-oxide-semiconductor field-effect transistor (MOSFET)

Meishoku Koh, Ken Ichi Hara, Katsuyuki Horita, Bungo Shigeta, Takashi Matsukawa, Atsushi Kishida, Takashi Tanii, Makoto Goto, Iwao Ohdomari

研究成果査読

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フィンガープリント

「Reverse-mode single ion beam induced charge (R-mode SIBIC) imaging for the test of total dose effects in n-ch metal-oxide-semiconductor field-effect transistor (MOSFET)」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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