Robustness of CNT via interconnect fabricated by low temperature process over a high-density current

Akio Kawabata*, Shintaro Sato, Tatsuhiro Nozue, Takashi Hyakushima, Masaaki Norimatsu, Miho Mishima, Tomo Murakami, Daiyu Kondo, Koji Asano, Mari Ohfuti, Hiroshi Kawarada, Tadashi Sakai, Mizuhisa Nihei, Yuji Awano

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フィンガープリント

「Robustness of CNT via interconnect fabricated by low temperature process over a high-density current」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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