Scan-chain optimization algorithms for multiple scan-paths

Susumu Kobayashi*, Masato Edahiro, Mikio Kubo

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抄録

This paper presents an algorithm framework for the scan-chain optimization problem in multiple-scan design methodology. It also presents algorithms we propose based on the framework; these are the first algorithms ever proposed for multiple-scan designing. Experiments using actual design data show that, for ten scan-paths, our algorithms achieved a 90% reduction in scan-test time at the expense of a 7% total scan-path length increase as compared with the length of a single optimized scan-path.

本文言語English
ページ301-306
ページ数6
出版ステータスPublished - 1998
外部発表はい
イベントProceedings of the 1998 3rd Conference of the Asia and South Pacific Design Automation (ASP-DAC '98) - Yokohama, Jpn
継続期間: 1998 2月 101998 2月 13

Other

OtherProceedings of the 1998 3rd Conference of the Asia and South Pacific Design Automation (ASP-DAC '98)
CityYokohama, Jpn
Period98/2/1098/2/13

ASJC Scopus subject areas

  • コンピュータ サイエンスの応用
  • コンピュータ グラフィックスおよびコンピュータ支援設計
  • 電子工学および電気工学

フィンガープリント

「Scan-chain optimization algorithms for multiple scan-paths」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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