SCHOTTKY CHARACTERISTICS AND INTERFACIAL DEFECTS IN TUNGSTEN SILICIDE/GaAs AND PALLADIUM/GaAs SYSTEMS.

T. Makimoto*, M. Taniguchi, K. Ogiwara, T. Ikoma, T. Okumura

*この研究の対応する著者

研究成果: Conference contribution

フィンガープリント

「SCHOTTKY CHARACTERISTICS AND INTERFACIAL DEFECTS IN TUNGSTEN SILICIDE/GaAs AND PALLADIUM/GaAs SYSTEMS.」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science