Small delay fault model for intra-gate resistive open defects

Masayuki Arai*, Akifumi Suto, Katsuyuki Nakano, Michihiro Shintani, Kazuhiko Iwasaki, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo

*この研究の対応する著者

研究成果: Conference contribution

10 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Small delay fault model for intra-gate resistive open defects」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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