Spectral wavefront optical reconstruction by diffraction

E. Frumker, G. G. Paulus, H. Niikura, D. M. Villeneuve, P. B. Corkum

研究成果: Conference contribution

抄録

We demonstrate a new concept of spectrally-resolved wavefront characterization, particular useful for high-harmonic and soft X-ray radiation. It is based on an analysis of radiation diffracted from a slit scanned in front of flat-field spectrometer.

本文言語English
ホスト出版物のタイトルQuantum Electronics and Laser Science Conference, QELS 2010
出版社Optical Society of America (OSA)
ISBN(印刷版)9781557528896
DOI
出版ステータスPublished - 2010
外部発表はい
イベントQuantum Electronics and Laser Science Conference, QELS 2010 - San Jose, CA, United States
継続期間: 2010 5 162010 5 21

出版物シリーズ

名前Optics InfoBase Conference Papers
ISSN(電子版)2162-2701

Conference

ConferenceQuantum Electronics and Laser Science Conference, QELS 2010
国/地域United States
CitySan Jose, CA
Period10/5/1610/5/21

ASJC Scopus subject areas

  • 原子分子物理学および光学
  • 器械工学

フィンガープリント

「Spectral wavefront optical reconstruction by diffraction」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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