Speed enhancement at Vdd = 0.4V and random Τpd variability reduction and analyisis of Τpd variability of silicon on thin buried oxide circuits

Hideki Makiyama*, Yoshiki Yamamoto, Hirofumi Shinohara, Toshiaki Iwamatsu, Hidekazu Oda, Nobuyuki Sugii, Koichiro Ishibashi, Yasuo Yamaguchi

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フィンガープリント

「Speed enhancement at Vdd = 0.4V and random Τpd variability reduction and analyisis of Τpd variability of silicon on thin buried oxide circuits」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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