SPERIL: AN EXPERT SYSTEM FOR DAMAGE ASSESSMENT OF EXISTING STRUCTURES.

Mitsuru Ishizuka, K. S. Fu, James T P Yao

研究成果: Conference contribution

7 被引用数 (Scopus)
本文言語English
ホスト出版物のタイトルProceedings - International Conference on Pattern Recognition
出版社IEEE
ページ932-937
ページ数6
出版ステータスPublished - 1982
外部発表はい

ASJC Scopus subject areas

  • コンピュータ ビジョンおよびパターン認識
  • ハードウェアとアーキテクチャ
  • 電子工学および電気工学

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