Standard materials and metrology for nanotechnology (SMAM-2)

Shingo Ichimura*, Tomizo Kurosawa, Toshiyuki Fujimoto, Hidehiko Nonaka

*この研究の対応する著者

研究成果: Editorial査読

本文言語English
ジャーナルMeasurement Science and Technology
18
9
DOI
出版ステータスPublished - 2007 9月 1
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